metralight MX SERIES 测微仪 技术参数

MX系列 

标准两件式非接触式激光测微仪METALIGHT生产各种光学传感器，主要是激光测微器、三角测量传感器、晶圆对准（穿透光束）和晶圆映射传感器。 

这些产品用于许多工业应用，取代了复杂的视觉系统。汽车、光纤、电缆和电线制造、塑料或金属管制造、SMT元件放置设备或“拾取和放置"机器、半导体、生物技术和许多其他工业工厂自动化应用等行业，需要以尽可能低的价格快速、可靠和准确地测量物体。Metralight欢迎定制标准产品和开发新的光学测量传感器。

直径测量、渣量或振动测量。 

DIAMETER、EDGE 1和EDGE 2模式的应用程序。用户可以定义其他测量模式。一些例子是：中心（检测到的物体的中心）、阈值测量（最小或最大直径）、位置（物体的放置）和方向（检测到物体的侧向性）。 

边缘或轮廓或表面跳动测量。 

EDGE模式的典型应用。在这种模式下，可以测量移动或静止物体的二维轮廓。 

大型物体、厚度、宽度或高度测量。 

EDGE模式的另一种应用。通过使用2个平行传感器来测量大型静止或运动物体的宽度或轮廓。 

物体之间的间隙测量。 

GAP模式的应用程序。可以测量静止或运动物体之间的间隙。 

X轴和Y轴测量直径、位置、振动、表面跳动。 

使用2个垂直传感器测量被检测物体的X和Y轴。